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POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點(diǎn)測量裝置

POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點(diǎn)測量裝置及產(chǎn)品簡介:
polos 單點(diǎn)測量裝置微型化解決方案,用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進(jìn)行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。

  • 產(chǎn)品型號:FR-ES
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-03
  • 訪  問  量:201
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詳細(xì)介紹

POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點(diǎn)測量裝置


polos 單點(diǎn)測量裝置

微型化解決方案,用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進(jìn)行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。


POLOS  FR-ES 是一種緊湊、輕便的裝置,用于涂層表征。使用 FR-ES,用戶可以在 370 - 1700 nm 光譜范圍內(nèi)進(jìn)行反射率和透射率測量。

FR-ES 平臺旨在提供 涂層表征性能。


FR-ES 可用于各種不同的應(yīng)用,例如:薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等。有三種配置可供選擇:

可見光/近紅外 (370 - 1020 nm)、NIR-N1 (850 - 1050 nm)、NIR (900 - 1700 nm)。


然后,有各種各樣的配件,例如:

濾光片可在某些光譜范圍內(nèi)阻擋光線

FR-Mic 用于非常小區(qū)域的測量

手動載物臺,25 x 25 mm、100 x 100 mm 或 200 x 200 mm

用于吸光度/透射率和化學(xué)濃度測量的膠片/比色皿支架

用于漫反射和總反射的積分球

通過不同模塊的組合,最終設(shè)置滿足任何最終用戶的需求。


polos  測量臺的應(yīng)用:

大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室

半導(dǎo)體

生命科學(xué)

聚合物和光刻膠特性

化學(xué)測量

介電特性

生物 醫(yī)學(xué)

硬化涂層, 陽極氧化, 金屬零件加工

光學(xué)鍍膜

非金屬薄膜


 

POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點(diǎn)測量裝置


 

FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍

緊湊、輕便的臺式系統(tǒng)

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室、生命科學(xué)等領(lǐng)域

廣泛的附件

單擊分析(無需初始猜測)


品牌:POLOS 系列

產(chǎn)品編號:FR-ES-VIS/NIR 近紅外

大?。篎R-ES 系列

材料:臺式系統(tǒng)

厚度范圍:12 納米 - 100 微米

光譜范圍:370 - 1020 納米

光源 MTBF:鹵素?zé)簦▋?nèi)部)


 POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點(diǎn)測量裝置





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